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- CleanMill氬離子研磨系統(tǒng)
CleanMill氬離子研磨系統(tǒng)為電池樣品SEM表征提供高質(zhì)量的制樣方案，傳統(tǒng)的機(jī)械研磨方式制備樣品斷面，斷面不可避免的存在機(jī)械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使用氬離子束切割樣品制備，可以制備出沒(méi)有機(jī)械損傷和表面污染的平整斷面，非常適用于制備電池材料和部件的斷面樣品，從而進(jìn)行掃 描電子顯微鏡結(jié)構(gòu)表征分析。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4103
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣, 為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統(tǒng)而設(shè)計(jì)的撞擊式冷凍制樣設(shè)備，提供了樣品載體和樣品載臺(tái)，它們可以放置在 ALTO 2500 冷凍工作站或ALTO 1000 的液氮泥加工站中*。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2725
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697
Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697，可利用IlionII進(jìn)行拋光加工的材料種類(lèi)十分廣泛，包括由多元素組成的試樣，以及具有不同的機(jī)械硬度、尺寸和物理特性的合金、半導(dǎo)體材料、聚合物和礦物等。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4844
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀
SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀，去除碳?xì)浠衔飳?duì)TEM和SEM樣品臺(tái)或樣品的污染，*的清洗解決方案，它利用等離子配方，對(duì)于所有的樣品，包括Holey碳膜，都具有更快更*的清洗效果。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：4352
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀，針對(duì)SEM/TEM開(kāi)發(fā)出的產(chǎn)品，它可以對(duì)不導(dǎo)電樣品進(jìn)行噴鍍，使導(dǎo)電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進(jìn)行觀(guān)測(cè)。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：3762
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
